背光反射計
型 號：OBR
原產(chǎn)地：美國LUNA
用 途：光纖、光纜、短距離光網(wǎng)絡的質檢；定位并提供光纖彎曲、熔接、連接頭、斷裂等的損耗數(shù)據(jù)；同時測量光纖光纜中全部位置的插損和回損；光器件質檢；可提供測量應變和溫度變化的分布式光纖傳感功能；實時光路校準。
背光反射計
LUNA超高空間分辨率的背光反射計OBR提供背向散射級別的靈敏度，為光纖光學領域提供超強的檢測和診斷能力。OBR可以精確定位出光纖網(wǎng)絡在組裝過程中導致?lián)p耗的細微量，獲得無源器件插損和回損與長度的函數(shù)關系。OBR基于掃描波長相干探測原理測量器件中散射光損耗與位置的函數(shù)關系。
應用
·光纖、光纜、短距離光網(wǎng)絡的質檢
·定位并提供光纖彎曲、熔接、連接頭、斷裂等的損耗數(shù)據(jù)
·同時測量光纖光纜中全部位置的插損和回損
·光器件質檢
·可提供測量應變和溫度變化的分布式光纖傳感功能
·實時光路校準
優(yōu)點
·微米級別的高空間分辨率，零死區(qū)
·靈敏度可達到-130dB
·單端連接，可調激光器的一次掃描，即可測得整條光鏈路上每個位置的插損、回損及偏振態(tài)數(shù)據(jù)
·可應用于單模及多模光器件
·每次測量都進行自校準并符合NIST標準
OBR4600適合于實驗室研究
優(yōu)點
·出類拔萃的10μm空間分辨率，零死區(qū)
·7s內以10μm的分辨率完成30m的測量
·跟蹤光在傳輸過程中的偏振態(tài)變化
·同一臺設備，可以分析單模和多模光纖
光纖鏈路中回損與長度的關系曲線，光纖連接頭前方有一個插損為3dB的過度彎曲故障
OBR 4200適合于工程現(xiàn)場
優(yōu)點
·500m的測量長度，毫米級空間分辨率，零死區(qū)
·小巧、結實、便攜，適合于外場施工
·能夠“查看”單模和多模光器件或光網(wǎng)絡中的任何狀況
OBR4200測試一根有彎折和斷裂損耗的光纜
OBT5T-50適合于生產(chǎn)線
優(yōu)點
·業(yè)界出類拔萃的綜合性能，11.9Hz的采樣頻率，8.5m的測量長度（可選配最長長度至16m），0.015%的長度測量準確度
·-125dB的靈敏度，20μm（兩點之間）高空間分辨率
·流暢的軟件界面，專門為方便生產(chǎn)線的操作而設計
·自動定位反射事件，顯示插損、回損數(shù)據(jù)
MEMS光開關回損與位置的關系曲線。OBR5T-50具備20μm的空間分辨率，很容易分辨前兩個間距為5mm的反射峰
- 2020-03-27背光反射計